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Analisi Elementare Metalli



Skyray Instrument Inc.

 

Dal 1992, Skyray Instrument Inc ha acquisito una posizione di rilievo nel campo dell'innovazione scientifica indipendente e nello sviluppo di attrezzature ad alta precisione analitica e di strumentazione high-tech a livello globale. Negli ultimi 20 anni, Skyray Instrument non ha mai smesso di innovarsi ed esplorare il campo del settore analitico.

Skyray Instrument ha fatto importanti scoperte nella Spettroscopia di Fluorescenza a raggi X (XRF),nella cromatografia a gas (GC), nella spettrometria di plasma accoppiato induttivamente (ICP), nella spettrometria di massa (MS) ed in molti altri settori di analsisi dei materiali.

 

 

 

SkyRay Pocket III

Il modello EDX Pocket II è uno strumento portatile per l'identificazione istantanea non distruttiva dei metalli tramite Fluorescenza X.
Target di misura:
- Plastici, metalli (Pb, Hg, Br, Cd, Cr)
- Origine: 40 KV-W target tube
- Diametro del fascio X-ray 6 mm
- Tempo di misura 10-200 sec.
- Range di misura da K a U
Metodo di ricalcolo: campione RoHS, controllo con il dato.
Utilizzo: portatile con PDA con ampia memoria
Durata delle batterie: < di 2 ore
Peso: 1,47 Kg con palmare
Brochure Esplicativa EDX Poket (pdf)

 

Spettrometri a fluorescenza a raggi X in dispersione di energia (EDXRF)

Gli spettrometri a fluorescenza a raggi X sono strumenti di altissima precisione per l'analisi in una vasta gamma di settori. Questi strumenti sono in grado di analizzare la quantità di diversi elementi dal sodio all'uranio (81 elemen titotali) in un qualsiasi campione di materiale.

Il vantaggio delgli spettrometri EDXRF è che i test sui campioni sono molto veloci, solitamente 20 - 60 secondi e le prove non sono distruttive.

 

RoHS - Cd, Pb, Cr, Hg, Br RoHS - Au, Ag Pt, Pd, Spettrometro da banco ISO9001

 

 

Spettrometro a dispersione di lunghezza d'onda (WDXRF) WDX 400

Lo strumento WDX 400 è un spettrometro compatto a multi canale a fluorescenza di raggi X e a diffrazione della luce; WDX 400 analizza simultaneamente 10 elementi arbitrari definiti dagll'utente da Na a U. La configurazione standard è dieci elementi Na, Mg, Al, Si, S, Cl, K, Ca, Fe, P o Ti (opzionale). Lo strumento è la scelta ideale controllo di qualità per le imprese grandi e medie imprese. La precisione dello strumento supera quella dei a raggi X con dati di misura più stabili; l'efficienza di eccitazione è superiore, il limite di rilevamento inferiore.

 

 

 

 

 

Analizzatore dello spessore di rivestimento Thick800 Spectrometer

 

Il Thick800 incorpora Skyray gli anni in misura di spessore di placcatura con il software di funzionamento full-auto, test multi-point, software di controllo dello strumento e la piattaforma mobile. E 'uno strumento potente dotato di un software speciale, che è ampiamente applicata in placcatura industrie.

WDX 400 Compact Multi-channel fluorescenza dei raggi X caratteristiche dello spettrometro per 10 canali fissi diffrazione della luce, con 10 elementi arbitrari definiti dagli utenti da Na a U essere analizzati simultaneamente. La configurazione standard è dieci elementi Na, Mg, Al, Si, S, Cl, K, Ca, Fe, P o Ti (opzionale). Lo strumento è la scelta ideale controllo di qualità per le imprese grandi e medie imprese. Superiore a raggi X di potenza, precisione di misura superiore, i dati di misura più stabile, l'efficienza di eccitazione superiori, il limite inferiore di rilevamento

 

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